生产线上的稳定三维测量
IF-SensorR25
IF-SensorR25 是可以安装在生产线上进行稳定三维测量的设备，该设备可以提供全自动形貌和粗糙度测量。该传感器可以整合在生产线上，在微米和亚微米范围内测量零部件表面特性，提供高精度，可重复，可追溯的测量结果。因此通过使用 IF-SensorR25 系统用户可以实现保持生产线和实验室测量流程的统一性。同时，采用标准界面(比如 QDAS)可以将系统简单，迅速地集成到生产中，从而实现比较测量。如果将IF-SensorR25 与一个6轴机械手组合可以获得一个全新的系统“工业机器人“，从而可以对大型零件微观表面进行灵活的质量检测和测量。
技术参数
| 测量标准 | 非接触，光学，立体三维，基于Focus Variation 自动变焦技术 |
| 定位量 (Z) | 25 mm (自动.) |
| 物镜放大倍数 | 10x | 20x | 50x | 2xSX | 4xAX | 5xAX | 10xAX | 20xAX | 50xSX | |
| 工作距离 | mm | 17.5 | 16 | 10.1 | 34 | 30 | 34 | 33.5 | 20 | 13 |
|
横向测量范围 (X,Y) (X x Y) |
mm mm² |
2 44 |
1 1 |
0.4 0.16 |
10 100 |
4.87 23.72 |
3.61 13.03 |
2 4 |
1 1 |
0.4 0.16 |
| 垂直分辨率 | nm | 100 | 50 | 20 | 3500 | 620 | 460 | 130 | 70 | 45 |
| 高度精度 (1 mm) | % | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 |
| 最小测量表面粗糙度 (Ra) | µm | 0.3 | 0.15 | 0.08 | --- | --- | --- | 0.45 | 0.25 | 0.15 |
| 最小测量粗糙度( (Sa) | µm | 0.15 | 0.075 | 0.05 | --- | --- | --- | 0.25 | 0.1 | 0.08 |
| 最小测量半径 | µm | 5 | 3 | 2 | 20 | 12 | 10 | 5 | 3 | 2 |
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高测量密度
高达5亿个测量点确保超精密测量,同时也可以保证即使在长工作距离下，也能保持公差在微米甚至亚微米范围内。Focus-Variation光学技术的高测量点密度使操作员能够在大范围测量过程中获得始终如一的高横向和纵向分辨率。
测量倾斜斜面
来自不同方向的光源通过处理可以提高测量效果，从而获得最佳倾斜斜面的数据，也不会受到物镜数值孔径的影响。根据不同的表面特性甚至可以测量达到87度的斜面。
各种不同表面反射特性
运用SmartFlash软件可以实现对各种具有不同表面折射特性的材料实现高分辨率测量。组合光源可以为整个测量范围提供最佳测量光源。我们的用户使用该设备可以为粗糙的，光滑的和高反射表面提供完整的三维测量。
Focus Variation 自动变焦技术
Alicona测量系统基于Focus Variation 自动变焦技术，该技术完美融合了表面粗糙度测量仪器和形貌测量仪器的功能。每一台Alicona测量系统都是一台集合表面测量设备，表面粗糙度测量设备，真实三维测量设备于一体的微米级坐标设备。Focus Variation 自动变焦技术将光学系统的小焦深与垂直扫描相结合，从焦点的变化中提供形貌和颜色信息。 该系统的主要组成部分是包含各种镜头部件的精密光学系统，可配备不同的物镜，以不同的分辨率进行测量。
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